Selection of Thresholding Methods for Non Destructive Testing Applications

SEZGİN M., Bülent S.

ICIP 2001, IEEE International Conference on Image Processing, 7 - 10 Ekim 2001 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • İstanbul Ticaret Üniversitesi Adresli: Hayır